隨著越來(lái)越多的經(jīng)驗(yàn)，我們已經(jīng)認(rèn)識(shí)到，許多以前的測(cè)試方法都屬于隨機(jī)亂測(cè)。對(duì)于較為成熟的軟件，這些測(cè)試方法的有效性往往比較低，運(yùn)氣好的話會(huì)碰上的問(wèn)題。如果是深層次的問(wèn)題，還是遇不到，或遇到找不到任何原因。那么，鄭州APP開發(fā)軟件怎么測(cè)試？

測(cè)試流程

由于內(nèi)存測(cè)試技術(shù)屬于一種性能分析測(cè)試，常見的測(cè)試工作方法主要包括Monkey/UIAutomator類的常規(guī)教學(xué)壓力測(cè)試、大數(shù)據(jù)/操作的峰值壓力測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行的穩(wěn)定性測(cè)試等。這類場(chǎng)景下的應(yīng)用程序內(nèi)存情況，經(jīng)常為了能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)自己類似內(nèi)存泄漏或OOM的問(wèn)題。

測(cè)試場(chǎng)景

測(cè)試場(chǎng)景通常是當(dāng)前新的發(fā)展或修改的功能，需要對(duì)這些功能的性能測(cè)試。因此，測(cè)試方案集中于功能組織，包括結(jié)束后打開功能，操作等之前的測(cè)試點(diǎn)。

代碼

通常用于內(nèi)存測(cè)試的版本是干凈版本，不應(yīng)該附加冗余的日志和調(diào)試組件。例如，在某些情況下，會(huì)添加存根代碼來(lái)測(cè)試性能，如接口延遲/函數(shù)執(zhí)行時(shí)間。 這段代碼在內(nèi)存測(cè)試中是不必要的，它可能分配臨時(shí)內(nèi)存，從而導(dǎo)致應(yīng)用程序變慢、運(yùn)行緩慢等等。

以上就是鄭州APP開發(fā)的小編為您帶來(lái)的APP測(cè)試的幾個(gè)流程，還有就是隨著明顯的問(wèn)題逐漸被找出來(lái)，剩下的都是更加復(fù)雜而不太明顯的問(wèn)題了，甚至有些問(wèn)題更是可以歸屬到優(yōu)化范疇或者產(chǎn)品策略之內(nèi)，而不再是簡(jiǎn)單的內(nèi)存問(wèn)題。